產(chǎn)品目錄
- 日本電色儀器
- HORIBA（過程&環(huán)境）
- 眼鏡檢測設(shè)備
- HORIBA（理科學(xué)）
- 試劑膠水耗材
- 美國TPS
- 日本愛泰克（ETAC）
- 英國ELGA超純水機(jī)
- 美國MOCON
- 美國SCS
- 德國馬爾
- 日本東上熱學(xué)
- 柴田科學(xué)
- MAAG瑪格儀器
- 德國烘箱
- 美國哈希HACH
- 進(jìn)口色差儀
- 顯微測厚儀
- 氣體檢測儀
- thermax測溫紙
- 瑞士梅特勒
- 德國 IKA艾卡
- TECAN 帝肯
- 瑞士萬通
- 萊卡Leica切片機(jī)和顯微鏡
- 美國AZI儀器Jerome環(huán)境檢測儀器
- 島津設(shè)備耗材
- 物理性能測試儀器
- 涂裝行業(yè)檢測設(shè)備
- SSD電離器
- 德國SI Analytics
- 菲思圖phaseⅡ
- 斯諾爾（SNOL）
- 東芝TOSHIBA
- COFOMEGRA鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱
- 日本島津揮發(fā)性有機(jī)物VOC檢測
- 荷蘭Haffmans（哈夫曼）
- 法國凱茂KIMO
- 美國LAWSON勞森海默菲爾
- 德國Wolfgang Warmbier
- 德國尼克斯
- 美國博勒飛
- 日本AND天平
- 日本京都電子KEM
- 賽默飛世爾Thermo Fisher
- 美國AZI
- 美國福祿克fluke
- 日本ATAGO（愛宕）折光儀
- SDT超聲波檢測儀
- 實(shí)驗(yàn)室自動(dòng)化系統(tǒng)
- 其余檢測儀器設(shè)備
- 倒置金相分析顯微鏡
- 韓國太成（TAE SUNG）
- 日本東芝
- 韓國NanoSvstem
- 日本英弘精機(jī)
- 數(shù)顯V棱鏡折射率測試儀
- 減反射膜反射比智能測試儀
- 日本菊水KIKUSUI
- 上海首立
- 日本TOPCON
- 柴田科學(xué)SIBATA
- 王子計(jì)測OSI
- 日本光洋熱系統(tǒng)
- 日本UBM
- 英國邁菱Mecmesin
- 美國Pollution Control Products
- 荷蘭TQC
- 日本中村科學(xué)
- 荷蘭microLAN
- 日本EKO
- James Heal
- 英國ATAC
- being
- Micro Support
- 日本LUCEO
- 日本HEIDON
- 伊斯拉視像ISRA VISION
- 日本理研
- IMASS
- 英國OTI
- NIKKATO
- 紅魔鬼Red Devil
- 韓國NanoSystem
- 雅馬拓YAMATO
- 美國RoadVista
- 大明化學(xué)工業(yè)株式會(huì)社
- 折原製作所ORIHARA
- 日本JASCO
- 島津
- 日本TECMAN
- 美國Thwing-Albert
- 日本U-TECHNOLOGY
- 美國首立
- 萩原工業(yè)株式會(huì)社HAGIHARA
- 寫真化學(xué)SHASHIN KAGAKU
- 日立HITACHI
- 日本INTEC
- MOCON
- 日本KETT
- 日本HIRAYAMA
- 日本OSG
- 美國AXOMETRICS
- 伊原電子IHARA
- 住友化學(xué)SUMITOMO
- TSI
- 駿河精機(jī)SURUGA SEIKI
- 德國拜佴BIT
展開
推薦產(chǎn)品
聯(lián)系我們
- 上海首立實(shí)業(yè)有限公司
- 公司地址：上海市閔行區(qū)古美路1471號(hào)華城廣場307室
- 公司傳真：86-21-54933358-813
- 聯(lián)系QQ：
掃一掃，立刻溝通
你的位置：首頁 > 產(chǎn)品展示
產(chǎn)品展示-
370系列370系列涂鍍層測厚儀（膜厚計(jì)）
-
LZ-990LZ-990型涂鍍層測厚儀（膜厚計(jì)）
-
TH-11TH-11型電解式鍍層測厚儀（膜厚計(jì)）
-
BTC-221BTC-221型β線非破壞式涂鍍層測厚儀（膜厚計(jì)）
-
RST-231RST-231型電阻式涂鍍層測厚儀（膜厚計(jì)）
-
D-20D-20渦電流式涂鍍層測厚儀（膜厚計(jì)）
-
DMC-211DMC-211渦電流式涂鍍層測厚儀（膜厚計(jì)）
-
CT-1CT-1型電解式鍍層測厚儀（膜厚計(jì)）
-
CT-2CT-2型電解式鍍層測厚儀（膜厚計(jì)）
-
CT-3CT-3型電解式鍍層測厚儀（膜厚計(jì)）
-
CT-4CT-4型電解式鍍層測厚儀（膜厚計(jì)）
-
GCT-311GCT-311型電解式鍍層測厚儀（膜厚計(jì)）
